Balder
  • Domov
  • Storitve
  • Rezervacije
  • Dogodki
  • O nas
  • Novice
  • Interni Blog

   

  • SINTEZA NOVIH NANOMATERIALOV
    • Pulzna laserska depozicija PLD
    • MBE
    • Ostala oprema
      • Visokotemperaturna pec
      • Avtoklav
      • Visokotlacni avtoklav
    • Empyrean diffractometer
  • KARAKTERIZACIJA
    • Transmisijski elektronski mikroskop - TEM
    • Mikroskop na atomsko silo - AFM
    • Magnetometer
    • NMR STM
    • LT STM
    • RAMAN-AFM mikroskop
    • Konfokalni mikroskop LEICA TCS SP5 X
    • Elipsometer
    • 4-probe STM UHV sistem
    • Nizkotemperaturna merilna postaja
    • Nizkotemperaturna merilna postaja z navpicnim magnetnim poljem
    • Superprevodni magnet z optičnim kriostatom
    • Nano Scratch Tester
    • Standard Tribometer
    • Reometer Physica MCR 301
    • Zetasizer Nano ZEN 3600
    • Akustični in elektroakustični spektrometer DT1200
    • MiniFlexll XRD
    • Ostala oprema
      • Opticni mikroskop Olympus BX51
      • Xenon komora Xe-3-Hs
      • SEM
      • SEM poljska emisija
      • STM
      • Polarizacijski mikroskop
      • Sistem za analizo elektronskih lastnosti
      • Difraktometer
      • Merilec mehanskih lastnosti nanovlaken
      • MAC Imode
      • Lock-in ojacevalec
      • PicoTrec
      • Nadgradnja proteomike
      • TGA/DTA/EGA
      • HR SEM
      • Masni spektrometer
      • FE SEM SUPRA 32 VP
      • HarmoniX
      • Merjenje elektricnih lastnosti
  • PROCESIRANJE
    • Opticna nanolitografija
    • ALD
    • Oprema za procesiranje in karakterizacijo nanodelcev
    • FIB
    • Karakterizacija lastnosti
    • Suha komora MB200MOD
    • Ink-jet printer za keramicne sole
    • Elektronska nanolitografija
    • Ostala oprema
      • Elektrometer
      • Janus
      • Brezprasna komora
      • RTA
      • Minimizacija mehanskih vibracij
      • Minimizacija mehanskih vibracij
  • MODELIRANJE
    • Racunalniska oprema
  • SEZNAM OPREME
  • TRAINING
  • FAQ



Oprema za ciscenje substratov

Predvideni rok dobave opreme: druga polovica leta 2012.


Cilj delovnega sklopa je postavitev sistema za čiščenje različnih vrst substratov (stekla, silicijeve plošče), ki je osnovnega pomena za številne eksperimente v okviru predlaganega CO, saj so dobro definirani substrati osnova za marsikatero uspešno aplikacijo. Nameravamo postaviti kompleksen, večstopenjski sistem čiščenja substratov, ki bo obsegal vse moderne tehnike čiščenja površine, ki se običajno uporabljajo v industriji TK prikazovalnikov ali mikroelektroniki. Sistem bo vključeval tudi vse postopke jedkanja, razvijanja in odtsranjevanja fotoresista, kar nam bo omogočilo izvajanje mikrolitografije.

Odgovorna oseba:
prof.dr. Igor Muševič
igor.musevic@ijs.si


Partnerji

Balder Cetis Cinkarna ETA UNIVERZA V LJUBLJANI Gorenje Mednarodna podiplomska šola Jožefa Stefana - MPŠ LPKF SH kolektor HELIOS  Institut "Jozef Stefan" Kemijski inštitut Ljubljana

© 2010 Center odličnosti nanoznanosti in nanotehnologije – Nanocenter, Ljubljana

Evropski sklad