Balder
  • Domov
  • Storitve
  • Rezervacije
  • Dogodki
  • O nas
  • Novice
  • Interni Blog

   

  • SINTEZA NOVIH NANOMATERIALOV
    • Pulzna laserska depozicija PLD
    • MBE
    • Ostala oprema
      • Visokotemperaturna pec
      • Avtoklav
      • Visokotlacni avtoklav
    • Empyrean diffractometer
  • KARAKTERIZACIJA
    • Transmisijski elektronski mikroskop - TEM
    • Mikroskop na atomsko silo - AFM
    • Magnetometer
    • NMR STM
    • LT STM
    • RAMAN-AFM mikroskop
    • Konfokalni mikroskop LEICA TCS SP5 X
    • Elipsometer
    • 4-probe STM UHV sistem
    • Nizkotemperaturna merilna postaja
    • Nizkotemperaturna merilna postaja z navpicnim magnetnim poljem
    • Superprevodni magnet z optičnim kriostatom
    • Nano Scratch Tester
    • Standard Tribometer
    • Reometer Physica MCR 301
    • Zetasizer Nano ZEN 3600
    • Akustični in elektroakustični spektrometer DT1200
    • MiniFlexll XRD
    • Ostala oprema
      • Opticni mikroskop Olympus BX51
      • Xenon komora Xe-3-Hs
      • SEM
      • SEM poljska emisija
      • STM
      • Polarizacijski mikroskop
      • Sistem za analizo elektronskih lastnosti
      • Difraktometer
      • Merilec mehanskih lastnosti nanovlaken
      • MAC Imode
      • Lock-in ojacevalec
      • PicoTrec
      • Nadgradnja proteomike
      • TGA/DTA/EGA
      • HR SEM
      • Masni spektrometer
      • FE SEM SUPRA 32 VP
      • HarmoniX
      • Merjenje elektricnih lastnosti
  • PROCESIRANJE
    • Opticna nanolitografija
    • ALD
    • Oprema za procesiranje in karakterizacijo nanodelcev
    • FIB
    • Karakterizacija lastnosti
    • Suha komora MB200MOD
    • Ink-jet printer za keramicne sole
    • Elektronska nanolitografija
    • Ostala oprema
      • Elektrometer
      • Janus
      • Brezprasna komora
      • RTA
      • Minimizacija mehanskih vibracij
      • Minimizacija mehanskih vibracij
  • MODELIRANJE
    • Racunalniska oprema
  • SEZNAM OPREME
  • TRAINING
  • FAQ



Masni spektrometer

Oprema je bila sofinancirana iz sredstev EU (ESRR skladi) v operaciji Center odličnosti nanoznanost in nanotehnologije 2004 - 2006.
Z elementnim masnim spektrometrom z vzorčevanjem z lasersko ablacijo (LA-ICP-MS) lahko analiziramo vsak trdni material, ki absorbira lasersko svetlobo. Velikost preiskovane, to je z laserjem obsevane površine (površinska ločljivost) je v območju od 4 do 100 µm. Meje zaznave so reda velikost mg/kg oziroma mg/kg in so odvisne od preiskovanega materiala in analita. LA-ICP-MS je nova tehnika za karakterizacijo materialov in je primerna za analizo heterogenih vzorcev, vključkov in tankih filmov. Zato je nepogrešljivo orodje pri sintezi sodobnih in mikro-materialov. Zaradi obsevanja razmeroma majhne površine je primerna tudi za tiste vzorce, kjer imamo na voljo le zelo majhno količino materiala (npr. mikrostrukture).

V okviru Investicije št. 11 smo nabavili dopolnilno in komplementarno opremo, ki je nujna za pripravo laboratorija za namestitev in delovanje sistema LA-ICP-MS. Sklopljena aparatura omogoča mikrosondiranje površin trdnih vzorcev pri atmosferskem tlaku z ločljivostjo od 4 do 100 mikrometrov in detekcijo večine elementov periodnega sistema z mejami zaznave velikostnega razreda ppb do ppm. Sistem je sestavljen iz dveh sklopov, ki se med seboj dopolnjujeta in sta bila nabavljene pri različnih ponudnikih. 1. Sklop je sistem za lasersko ablacijo NWR UP 213, 2. sklop pa je Elementni masni spektrometer Agilent 7500ce. V skladu z zakonom o javnih naročilih smo kot najugodnejšega ponudnika za 1. sklop izbrali podjetje Omega d.o.o., ki zastopa proizvajalca New Wave Research, kot najugodnejšega ponudnika za 2. sklop pa smo izbrali podjetje Chemass d.o.o., ki zastopa proizvajalca Agilent Technologies. Oprema je locirana na Kemijskem inštitutu in je od 1. 1. 2006 na voljo vsem partnerjem projekta.

Oprema je locirana na Kemijskem inštitutu in je od 1. 1. 2006 na voljo vsem partnerjem projekta.

Za več informacij kontaktirajte:

bozidar.ogorevc@ki.si , vid.selih@ki.si, janez.jamnik@ijs.si


Partnerji

Balder Cetis Cinkarna ETA UNIVERZA V LJUBLJANI Gorenje Mednarodna podiplomska šola Jožefa Stefana - MPŠ LPKF SH kolektor HELIOS  Institut "Jozef Stefan" Kemijski inštitut Ljubljana

© 2010 Center odličnosti nanoznanosti in nanotehnologije – Nanocenter, Ljubljana

Evropski sklad